为了进一步响应国家及学校对于大型科学仪器开放共享的若干举措，更好地提高大型精密仪器的使用效益，更全面满足校内广大师生的需求，电镜中心在前期培训的经验基础上，针对扫描电镜启动新一期培训。详情如下：
聚焦离子束(Focused Ion beam, FIB)的系统是利用电透镜将离子束聚焦成非常小尺寸的显微切割仪器，液相金属离子源,金属材质为镓(Gallium, Ga)可以进行材料沉积和化学增强刻蚀，通过注入特殊的化学气体，离子束可以沉积一些材料形成亚微米的结构，气体化学系统结合离子束可以形成化学刻蚀来进行选择性切割。高能聚焦离子束轰击样品时，其动能会传递给样品中的原子分子，产生溅射效应，从而达到不断蚀刻，即切割样品的效果。其切割定位精度能达到纳米级别，具有超高的切割精度。
可满足多种制样需求，例如：透射电镜样品制备、离子注入、离子束沉积薄膜、离子束蚀刻等。在FIB-SEM双束系统中，聚焦离子束和电子束优势互补。离子束成型衬度大，但存在损伤样品和分辨率低的缺点，电子束激发的二次电子成像分辨率高、对样品损伤小，但衬度较低，两者组合可获得更清晰准确的样品表面信息目前5nm的加工精度、无污染和不损伤样品在样品加工方面存在这巨大优势，是其他样品制备设备无法达到的水平。
一、培训设备
FEI Helios G4 UX场发射聚焦离子束电子显微镜(FIB)
二、培训时间
另行通知
三、培训内容
FIB基础理论、使用方法、使用规则等
四、培训形式
集中培训、上机操作、单独考核
五、培训收费
培训免费，但每个学员培训后两个月内至少要完成20个小时的上机练习并通过考核后方可获得独立上机资格，为鼓励广大师生参加培训，练习时间按照优惠价格收取基本机时费。
六、考核
电镜中心负责老师会组织专家对每个学生进行考核，考核分为理论汇报和实际上机操作两个部分，考核合格的学员可以获得独立操作资格，考核不合格学员需继续练习，同下一期学员一同考核。
七、报名方式
每个参加培训学员征求导师意见后报名，自行打印安全责任书（见附件）一式三份，个人导师分别签名后，提交至电镜中心204办公室，报名截止日期2024年10月1日。为了保证培训质量且兼顾需求，每个课题组限报名2人，15人满额。培训时间另行通知。
培训报名：发送邮件至51254700102@stu.ecnu.edu.cn，邮件内备注姓名、院系、联系方式，后续电镜中心根据邮件信息与报名人员联络。
2024年9月24日